Labsystematic

Mikroskop Gaya Atom AFM

24 November 2015 - 10:34

Mikroskop Gaya Atom, atau yang lebih dikenal dengan Atomic Force Microscopy (AFM) merupakan alat uji material yang tak terpisahkan dalam karakterisasi rekayasa material sekarang ini, lebih-lebih karena menjamurnya riset material nano.

Secara teknnis, mikroskop gaya atom terdiri dari sebuah penopang (cantilever) yang ujungnya tajam sebagai alat pemeriksa (probe) yang digunakan untuk "meraba" permukaan sampel. Penopang tersebut terbuat dari silikon yang radius kelengkungannya ujung mencapai bilangan nanometer. Ketika ujungnya dibawa mendekati permukaan sampel, gaya antara ujung tajam pemindai dengan permukaan sampel menyebabkan pelengkungan penopang sesuai dengan hukum Hooke Tergantung pada situasinya, gaya yang diukur AFM meliputi gaya kontak mekanik, gaya van der Waals, ikatan kimia, gaya elektrostatik., gaya magnet, gaya Casimir, gaya pelarutan.

AFM dari NT-MDT merupakan pelopor dalam teknologi AFM sehingga memudahkan pengguna mengoperasikan "alat canggih" ini. info lebih lanjut, contact: zakka@labsystematic.com

Request This Product

Komentar

  • RAHMANIAH
    09 February 2016 - 23:56

    minta tolong untuk memberikan informasi spesifik beserta harganya alat ini. terima kasih